Descrição do produto: O SE-VM é um elipímetro espectral de medição rápida de alta precisão. A análise de caracterização de parâmetros ópticos e nanoestruturas pode ser realizada rapidamente através da medição de parâmetros como parâmetros elípticos, transmissão / refletidão, etc., aplicável à caracterização de medição rápida de materiais de película fina. Suporta configurações flexíveis de alta compatibilidade como múltiplos ângulos, micromanchas, sistemas de alinhamento visual e outros, design personalizado de módulos multifuncionais. $r$n$r$n solução de medição elíptica de alta precisão; Medição ultra-alta precisão e rápida sem perdas; Suporta a personalização flexível de módulos funcionais de múltiplos ângulos, micromanchas e sistemas de ajuste visual; Uma rica biblioteca de bancos de dados e modelos geométricos para uma análise de dados robusta