Microscópio eletrônico de transmissão de varredura de correção diferencial Hitachi HD-2700

NegociávelAtualização em03/18

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Visão geral

Microscópio eletrônico de transmissão de varredura com correção de diferença Hitachi HD-2700, em comparação com o eletroscópio de transmissão comum, o HD-2700 usa a tecnologia de correção de diferença, reduzindo significativamente o efeito da diferença de lente na resolução, permitindo assim a observação de ultra-alta resolução. Enquanto isso, o HD-2700 é um dos poucos eletroscópios de transmissão atualmente baseados em funções de transmissão de varredura (STEM), e a tecnologia de correção de disparos eletrônicos de campo combinado de funções STEM da assembleia pode permitir que o HD-2700 obtenha feixes de eletrônicos de nível sub-nanométrico.

Detalhes do produto

Microscópio eletrônico de transmissão de varredura de correção diferencial Hitachi HD-2700

Introdução do produto:

O HD-2700 é um eletroscópio de transmissão de varredura de correção de diferença de emissão de campo de 200kV. Em comparação com o eletroscópio de transmissão comum, o HD-2700 usa a tecnologia de correção da diferença de esfera, reduzindo significativamente o efeito da diferença de esfera da lente na resolução, permitindo observações de ultra-alta resolução. Ao mesmo tempo, o HD-2700 é um dos poucos eletroscópios de transmissão atualmente baseados na função de transmissão de varredura (STEM), e a tecnologia de correção de disparo eletrônico de campo de função STEM e de diferença de esfera do conglomerado permite que o HD-2700 obtenha feixes de elétrons de nível sub-nanométrico, tornando possível a observação de imagens e análise elementar em resolução atômica, melhorando significativamente a capacidade de observação e análise do eletroscópio.

Características principais do microscópio de eletrôns de transmissão de varredura de correção diferencial Hitachi HD-2700:

Observação de alta resolução

Utilizando partículas de ouro para garantir a resolução de 0,144nm DF-STEM imagem (tipo padrão).

Análise de fluxo grande

Cerca de 10 vezes a corrente da sonda STEM não corrigida permite a análise espectral de alta velocidade e alta sensibilidade, permitindo obter mapas de superfície dos elementos em menos tempo, tornando possível a detecção de oligoelementos.
Operação simplificada

Corretor de diferença de ajuste automático da GUI fornecida

Solução integral

A barra de amostragem é compatível com o Hitachi FIB e oferece uma solução integral em nanoescala, desde a amostragem até a obtenção de dados e análise final.

Várias funções de avaliação e análise disponíveis
Imagens SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX e DF/EELS podem ser obtidas e exibidas simultaneamente; Pode ser equipado com o sistema de mapeamento de elementos em tempo real ELV-2000 (imagens DF-STEM podem ser obtidas simultaneamente); Imagens DF-STEM e difrações podem ser observadas simultaneamente; Pode ser equipado com barras de amostra de cabeça de cilindro ultra-microscópica para análise tridimensional (rotação de 360 graus), etc.

Parâmetros técnicos:

projeto	Parâmetros principais
Pistola eletrônica	Pistola eletrônica de campo frio ou quente
Tensão acelerada	200kV e 120kV^*
	0,144nm (padrão, com diferença de bola, campo frio ou campo quente)
Resolução de linha	0,136nm (alta resolução, com diferença de bola, campo frio)
	0,204nm (tipo padrão, com campo térmico, sem diferença de bola)
Ampliar	200x - 10.000.000x
Modo de imagem	Imagem de revestimento de fase BF-STEM (imagem TE), imagem de revestimento de número atômico DF-STEM (imagem ZC), imagem de elétrons secundários (imagem SE), padrão de difração de elétrons (opcional), imagem de raios-X característicos (opcional: EDX), imagem EELS (opcional: ELV-2000)
Óptica eletrônica	Pistola eletrônica: Pistola eletrônica de disparo de campo frio ou quente, aquecedor de ánodo incorporado
	Sistema de lentes: foco de dois níveis, lente, espelho de projeção
	Corretor de diferença: sexpólo/transmissão duplo (padrão e alta resolução)
	Bobina de varredura: bobina eletromagnética de dois níveis
	Deslocamento de potencial: ±1μm
barra de amostra	Plug lateral, X = Y = ± 1 mm, Z = ± 0,4 mm, T = ± 30 ° (barra de amostra inclinada)

Área de aplicação:

O HD-2700, como um eletroscópio de transmissão de varredura com correção de diferença de emissão de campo, não só possui a capacidade de observação de imagens de alta resolução, mas também a capacidade de análise de alta resolução espacial, que combina EELS e EDS para realizar a análise de elementos atômicos. O HD-2700 oferece vários modos de imagem para atender às necessidades de observação da maioria das amostras, enquanto o modo de imagem SE da Hitachi* permite obter informações sobre a superfície da amostra que o eletroscópio de transmissão não pode obter e, ao mesmo tempo, oferece uma resolução mais alta do que o eletroscópio de varredura normal, permitindo uma observação de alta resolução da superfície da amostra.

Artigos aplicados:

[1] Ciston1, J., Brown2, H. G., D`Alfonso2, A. J., Koirala3, P., Ophus1, C., Lin3, Y., Suzuki4, Y., Inada5, H., Zhu6, Y. & Marks3, L. D. Determinação da superfície através de imagens de elétrons secundários resolvidas atomicamente. Nature Communications, 2005,6, 7358-7365.

[2] Zhu1*, Y., Inada2, H., Nakamura2, K. & Wall1, J. Imagem de átomos individuais usando elétrons secundários com um microscópio elétron corrigido por aberração. Materiais da natureza, 2009,8, 808-812.

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