O microscópio eletrônico de transmissão de lançamento Hitachi HF-3300, combinado com a prestigiada arma eletrônica de lançamento de campo frio da Hitachi e o sistema de alta tensão de 300kV garantem que o HF-3300 tenha imagens de ultra-alta resolução e capacidade de análise de alta sensibilidade. O HF-3300 possui a capacidade de holografia duplo-prisma* para obter informações que muitas micrografias eletrônicas de transmissão não podem obter, especialmente informações de fase relacionadas com as propriedades físicas do material (como campos elétricos, campos magnéticos, etc.). Combinado com a espectroscopia de perda de energia eletrônica elementar (EELS) e a tecnologia de difração de nanofeixes paralelos de alta precisão, o HF-3300 também pode estudar resoluções espaciais ultra-altas.
Microscópio eletrônico de transmissão HF-3300
Introdução do produto:
O HF-3300 é um eletroscópio de transmissão de emissão de campo frio de 300 kV, e a combinação da renomada arma eletrônica de emissão de campo frio da Hitachi com um sistema de alta tensão de 300 kV garante que o HF-3300 possui imagens de ultra-alta resolução e capacidade de análise de alta sensibilidade. O HF-3300 possui a capacidade de holografia duplo-prisma* para obter informações que muitas micrografias eletrônicas de transmissão não podem obter, especialmente informações de fase relacionadas com as propriedades físicas do material (como campos elétricos, campos magnéticos, etc.). Combinado com a espectroscopia de perda de energia eletrônica elementar (EELS) e a tecnologia de difração de nanofeixes paralelos de alta precisão, o HF-3300 também pode estudar a análise elementar e as características estruturais de materiais em resolução espacial ultra-alta, abrindo uma nova porta para a pesquisa de materiais.
Principais características do microscópio eletrônico de transmissão HF-3300:
Campo de alto brilho dispara arma eletrônica fria
As características inerentes de alto brilho e alta resolução energética das armas eletrônicas de lançamento de campo frio tornam possíveis pesquisas analíticas em nanoescala, contribuindo * para imagens de ultra-alta resolução e holografia eletrônica.
Sistema de alta tensão 300kV
O sistema de alta tensão de 300kV tem uma maior capacidade de penetração, garantindo imagens de resolução atômica de amostras grossas, reduzindo a dificuldade de preparação de amostras, especialmente para a observação de amostras de alto número atômico de metais, cerâmicas e outros.
* Capacidade analítica
Novamente introduzidas técnicas analíticas como holografia de duplo prisma, espectroscopia de perda de energia eletrônica de alta resolução espacial (EELS) e tecnologia de difração de nanofeixes paralelos de alta precisão*.
Colaborável com a barra de amostra FIB
As barras de amostragem exclusivas da Hitachi são adaptadas para uso em FIB, TEM e STEM.
Sistema de controle fácil de usar
O sistema de controle por computador baseado no Windows, a pendência móvel do motor e o banco de amostragem do motor de 5 eixos tornam o instrumento fácil de usar, com um tempo de elevação de pressão de 10 minutos e um tempo de troca de amostra de 1 minuto garantindo um funcionamento eficiente do instrumento.
Parâmetros técnicos:
| projeto |
Parâmetros principais |
| Pistola eletrônica |
Tungstênio monocristalino (310) arma eletrônica de lançamento a frio |
| Tensão acelerada |
300kV e 200kV*com 100kV* |
| Resolução do ponto |
0,19 nm |
| Resolução de linha |
0,10 nm |
| Resolução de informações |
0,13 nm |
| Ampliar |
Baixa multiplicação: 200x - 500x; Observações: 2.000x - 1.500.000x |
| Rotação da imagem |
≤±5° (modo de observação, menos de 1.000.000x) |
| Inclinação da amostra |
±15° |
| Comprimento da câmera |
300 – 3.000 milímetros |
| Stereângulo espectral* |
0,15Sr |
Áreas de aplicação:
HF3300, como um eletroscópio de transmissão de alta tensão de emissão de campo frio, pode ser usado como um dispositivo de observação de alta resolução de amostras da maioria dos materiais (metais, cerâmicas, etc.), que pode simplificar a dificuldade da amostragem e garantir alta resolução. Ao mesmo tempo, o HF-3300 também pode atender às necessidades de análise de alta resolução espacial, e a arma eletrônica de lançamento de campo frio de alto brilho e baixa diferença de cor fornece garantias para análise de elementos e estruturas de alta resolução espacial, combinada com a função de difração de EELS e nanofeixe pode alcançar a distribuição de elementos em nanoescala e o estudo da estrutura cristalina. * A capacidade de imagem holográfica de prisma duplo permite que o HF-3300 obtenha mais informações sobre amostras, especialmente informações relacionadas com propriedades físicas, ampliando significativamente seu campo de aplicação.



