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Oxford CMI760 medidor de espessura de cobre de superfície de PCB

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O medidor de espessura de cobre superficial/furo de PCB Oxford CMI760 $r$nCMI 700 foi projetado para atender às necessidades de medição e controle de qualidade de espessura de cobre na indústria de placas de circuito impresso.

Detalhes do produto

Oxford CMI760 PCB furo cobre & medidor de espessura de cobre superficial

Oxford CMI760 medidor de espessura de cobre e cobre superficial CMI700

O CMI 700 foi projetado para atender às necessidades de medição e controle de qualidade de espessura de cobre na indústria de circuitos impressos.

O CMI 760 pode ser usado para medir a espessura do cobre na superfície e dentro das perfurações. Este sistema de medição de espessura de mesa altamente escalável utiliza tanto microresistência quanto fluxo de turbo elétrico para obter medições precisas e precisas da espessura do cobre na superfície e dentro das perfurações. O sistema de medição de mesa CMI 700 é extremamente versátil e escalável, e a compatibilidade com uma variedade de sondas permite que ele atenda a uma variedade de aplicações, incluindo medição de espessuras de cobre superficial, cobre dentro de perfuração e cobre dentro de microporos, bem como testes de qualidade de cobre dentro de poros.

O CMI 760 também possui funções estatísticas* para a análise de dados de teste.

A configuração do CMI 700 inclui:

CMI 700 Hospedagem e Certificados

Sonda SRP-4

Módulo de sonda para substituição da sonda SRP-4 (1)

Certificados e cartões padrão NIST

Acessórios opcionais:

Sonda ETP Sonda TRP Software SRG

Parâmetros técnicos do teste da sonda de cobre SRP-4:

Medição da espessura do cobre:

Cobre químico: 10μin-500μin (0,25μm-12,7μm)

cobre galvanizado: 0,1 mil-6 mil (2,5 μm-152 μm)

Largura de linha testada de cobre linear: 8 mil-250 mil (203 μm-6350 μm)

Precisão: ± 1% (± 0,1 μm) folha padrão de referência

Precisão: cobre químico: desvio padrão de 0,2%; Cobre galvanizado: desvio padrão 0,5%

Resolução: 0,01 mils≥1 mil, 0,001 mils <1 mil,

0,1μm≥10μm, 0,01μm < 10μm, 0,001μm < 1μm

Parâmetros técnicos do teste da sonda de cobre ETP:

Diâmetro de orifício pequeno Zui testável: 35 mils (899 μm)

Espessura de medição: 0,08-4,0 mils (1-102 μm)

Princípio do fluxo turbulento: cumprimento das disposições relevantes da norma ASTM-E376-96

Precisão: ± 0,01 mil (0,25 μm) < 1 mil (25 μm)

Precisão: 1,2 mil (30 μm) até 1,0% (em laboratório)

Resolução: 0,01 mil (0,1 μm)

Visualização LCD de 6 bits

Unidade de medição um-mils opcional

Estatísticas Média, desvio padrão, zui grande max, zui pequeno min

Interface 232 para impressão em paralelo

Alimentação AC220

Dimensões do instrumento 290x270x140mm

Peso do instrumento 2.79kg