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Shanghai Haoliang Optoelectronic Equipment Co., Ltd
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Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE
Quando um feixe de luz polarizada de linha é refletido pelo meio magnético, a superfície polarizada da luz refletida tem um pequeno desvio angular (ângulo de rotação Kerr) em relação à superfície polarizada da luz entrante, o fenômeno é chamado de efeito Kerr magnético. Mais tarde, este efeito foi usado para o estudo das propriedades magnéticas dos materiais. O sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr é um conjunto de dispositivos para medir com precisão o ângulo de rotação de Kerr. O sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr é um dispositivo para medição precisa do ângulo de desvio do efeito polar Kerr e do efeito longitudinal Kerr,Torna o dispositivo uma ferramenta de medição para estudar as propriedades magnéticas das películas magnéticas finas. Amplamente utilizado em campos magnéticos como nanotecnologia magnética, filme magnético e outros.
Sistema de medição do efeito magneto-óptico Kerr com laser como fonte de luz,Como o sinal magnético do efeito magneto-óptico Kerr da amostra vem principalmente da área de exposição à mancha óptica, o sistema de medição do efeito magneto-óptico Kerr tem uma boa localização e pode realizar o estudo das propriedades magnéticas do material dentro da área de microns. Além disso, usa o feixe de laser polarizado como "sonda", portanto, a amostra não causará danos, alcançando a medição sem danos da amostra, o que é muito benéfico para amostras que precisam fazer várias medições.
Sistema de medição do efeito magnetóptico KerrSensibilidade * para a precisão de detecção do ângulo de rotação Kerr±0.001graus. Isso dá ao dispositivo um lugar importante no estudo das propriedades magnéticas das películas finas magnéticas. Utilizando o núcleo de ferro eletromagnético para gerar campos magnéticos adicionais, pode fornecer até25KOealém do campo magnético.
Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE
Sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr, sistema de medição magnética,Sistema MOKESistema de medição do efeito magnético-óptico Kerr na região de microns, dispositivo de medição de linha de retardamento magnético
O sistema de medição magnético-óptico de Shanghai Haoquang Photoelectric Equipment Co., Ltd. pode ser dividido principalmente em três categorias:
①Equipamento de medição do efeito magneto-óptico Kerr de medição polar (sistema de medição de linha de lag magnético MOKE)
O produto é a série BH-810. O dispositivo de medição do efeito magneto-óptico Kerr (MOKE) BH-810CPC25WF12 é um deles, principalmente para medir as propriedades magnéticas do meio de registro magnético vertical de 12 polegadas. Para uma análise precisa de cada ponto de detecção, o produto aplica um laser sólido de 408nm com um diâmetro de mancha óptica de 1mm, além de um campo magnético de até 25KOe.


②Equipamento de medição do efeito magneto-óptico Kerr para medição (sistema de medição de linha de retardamento magnético MOKE)
Representa a série de produtos BH-618. O BH-618SK-CA12 é um sistema de medição magneto-óptica Kerr que mede automaticamente as propriedades magnéticas da wafer e o sexo oposto. As medições de até 400 pontos diferentes de atraso magnético podem ser feitas em wafers de 12 polegadas e os resultados da detecção são exibidos na forma de imagens.

③Sistema de Medição do Efeito Kerr Magnetográfico Microrregional (msistema-kerr(extremamente+vertical,MOKESistema de medição de lazo magnético)
Os produtos representamBH-920Série. Em comparação com os dois primeiros produtos,BH-920As séries possuem manchas laser menores que permitem estudar as propriedades magnéticas dentro da região de microns.BH-P920-NHÉ um sistema de medição do efeito Kerr magnético-óptico microrregional polar, o dispositivo tem uma sensibilidade alcançável*0.001°. eBH-P920-NHEm comparaçãoBH-PI920Não só com a mesma sensibilidade de detecção, mas também com medições polares e longitudinais.


Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE

uCaracterísticas principais
uAplicações principais
Nanotecnologia magnética, filmes magnéticos, materiais magnéticos e outros campos magnéticos
uProjetos de medição
Linha de atraso magnético |
XEixo: mais força de campo magnético H |
O YEixo: ângulo de rotação KerrO qk | |
Parâmetros disponíveis através de loops magnéticos |
Resistência Hc |
Campo heterosexual Hk | |
Resistência interna Hn | |
Força de campo magnético saturado Hs | |
Resistência de magnetizaçãoO qr | |
Resistência de magnetização saturadaO qs |
uParâmetros principais do produto:
|
Modelo do produto parâmetro |
BH-PI920série |
BH-P920-NH |
BH-PI920 |
BH-810CPC25WF12 |
BH-618SK-CA12 |
Características do produto |
Sistema de medição microregional para medições longitudinais/polares |
Dispositivo de medição polar micro-regional Kerr com alta sensibilidade |
Sistema de medição microregional para medições longitudinais/polares com alta sensibilidade |
Medição do efeito Kehl magnético polar,PMRMedição das propriedades magnéticas dos wafers de película fina |
Sistema de medição magnético-óptico longitudinal Kerr para medição de múltiplos pontos de atraso magnético |
Fonte de luz laser |
Laser semicondutor (405 nm) |
|
|
Laser semicondutor(408nm) |
Laser semicondutor (405 nm) |
Diâmetro da mancha |
Medição longitudinal Cerca de 5mm [1/e]2] |
1-2mm |
2-3mm |
1 milímetro |
1´2 milímetros |
|
Medição polar Aproximadamente 2mm [1/e]2] | |||||
Detecção de sensibilidade |
± 0.005° |
±0.001° |
±0.001° |
± 0.005° |
± 0.005° |
Alcance de detecção |
± 1° |
|
|
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|
Mais força de campo magnético |
Ímã polar >±10kOe |
>±10kOe |
Campo magnético polar >±1.5T |
>±25kOe |
>±0,2T |
|
Campo magnético interior >±10kOe |
Campo magnético interior >±1T |
||||
Tamanho da amostra mensurável |
5´5´1TMM~10´10´1TMM |
|
5´5~10´10 milímetros t:0.5~1 milímetro |
wafer de 12 polegadas |
wafer de 12 polegadas |