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Shanghai Haoliang Optoelectronic Equipment Co., Ltd
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Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE

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O sistema de medição do efeito magneto-óptico Kerr (MOKE) é um dispositivo para medição precisa do ângulo de desvio do efeito polar Kerr e do efeito longitudinal Kerr, tornando-o uma ferramenta de medição ideal para estudar as propriedades magnéticas da película magnética fina. Amplamente utilizado em campos magnéticos como nanotecnologia magnética, filme magnético e outros.

Detalhes do produto

Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE

Quando um feixe de luz polarizada de linha é refletido pelo meio magnético, a superfície polarizada da luz refletida tem um pequeno desvio angular (ângulo de rotação Kerr) em relação à superfície polarizada da luz entrante, o fenômeno é chamado de efeito Kerr magnético. Mais tarde, este efeito foi usado para o estudo das propriedades magnéticas dos materiais. O sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr é um conjunto de dispositivos para medir com precisão o ângulo de rotação de Kerr. O sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr é um dispositivo para medição precisa do ângulo de desvio do efeito polar Kerr e do efeito longitudinal Kerr,Torna o dispositivo uma ferramenta de medição para estudar as propriedades magnéticas das películas magnéticas finas. Amplamente utilizado em campos magnéticos como nanotecnologia magnética, filme magnético e outros.

Sistema de medição do efeito magneto-óptico Kerr com laser como fonte de luz,Como o sinal magnético do efeito magneto-óptico Kerr da amostra vem principalmente da área de exposição à mancha óptica, o sistema de medição do efeito magneto-óptico Kerr tem uma boa localização e pode realizar o estudo das propriedades magnéticas do material dentro da área de microns. Além disso, usa o feixe de laser polarizado como "sonda", portanto, a amostra não causará danos, alcançando a medição sem danos da amostra, o que é muito benéfico para amostras que precisam fazer várias medições.

Sistema de medição do efeito magnetóptico KerrSensibilidade * para a precisão de detecção do ângulo de rotação Kerr±0.001graus. Isso dá ao dispositivo um lugar importante no estudo das propriedades magnéticas das películas finas magnéticas. Utilizando o núcleo de ferro eletromagnético para gerar campos magnéticos adicionais, pode fornecer até25KOealém do campo magnético.

Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE

Sistema de medição do efeito magnetóptico Kerr, sistema de medição magnética,Sistema MOKESistema de medição do efeito magnético-óptico Kerr na região de microns, dispositivo de medição de linha de retardamento magnético

O sistema de medição magnético-óptico de Shanghai Haoquang Photoelectric Equipment Co., Ltd. pode ser dividido principalmente em três categorias:

①Equipamento de medição do efeito magneto-óptico Kerr de medição polar (sistema de medição de linha de lag magnético MOKE)

O produto é a série BH-810. O dispositivo de medição do efeito magneto-óptico Kerr (MOKE) BH-810CPC25WF12 é um deles, principalmente para medir as propriedades magnéticas do meio de registro magnético vertical de 12 polegadas. Para uma análise precisa de cada ponto de detecção, o produto aplica um laser sólido de 408nm com um diâmetro de mancha óptica de 1mm, além de um campo magnético de até 25KOe.

<strong><strong><strong><strong>磁光克尔(MOKE)效应测量系统</strong></strong></strong></strong>

<strong><strong><strong><strong>磁光克尔(MOKE)效应测量系统</strong></strong></strong></strong>

②Equipamento de medição do efeito magneto-óptico Kerr para medição (sistema de medição de linha de retardamento magnético MOKE)

Representa a série de produtos BH-618. O BH-618SK-CA12 é um sistema de medição magneto-óptica Kerr que mede automaticamente as propriedades magnéticas da wafer e o sexo oposto. As medições de até 400 pontos diferentes de atraso magnético podem ser feitas em wafers de 12 polegadas e os resultados da detecção são exibidos na forma de imagens.

③Sistema de Medição do Efeito Kerr Magnetográfico Microrregional (msistema-kerr(extremamente+vertical,MOKESistema de medição de lazo magnético)

Os produtos representamBH-920Série. Em comparação com os dois primeiros produtos,BH-920As séries possuem manchas laser menores que permitem estudar as propriedades magnéticas dentro da região de microns.BH-P920-NHÉ um sistema de medição do efeito Kerr magnético-óptico microrregional polar, o dispositivo tem uma sensibilidade alcançável*0.001°. eBH-P920-NHEm comparaçãoBH-PI920Não só com a mesma sensibilidade de detecção, mas também com medições polares e longitudinais.

Sistema de medição do efeito magnético-óptico MOKE

uCaracterísticas principais

  • alto desempenho
  • Custo baixo
  • Alta sensibilidade (0.001°)
  • Alta estabilidade
  • Campo magnético elevado (25KOe)

uAplicações principais

Nanotecnologia magnética, filmes magnéticos, materiais magnéticos e outros campos magnéticos

uProjetos de medição

Linha de atraso magnético

XEixo: mais força de campo magnético H

O YEixo: ângulo de rotação KerrO qk

Parâmetros disponíveis através de loops magnéticos

Resistência Hc

Campo heterosexual Hk

Resistência interna Hn

Força de campo magnético saturado Hs

Resistência de magnetizaçãoO qr

Resistência de magnetização saturadaO qs

uParâmetros principais do produto:

Modelo do produto

parâmetro

BH-PI920série

BH-P920-NH

BH-PI920

BH-810CPC25WF12

BH-618SK-CA12

Características do produto

Sistema de medição microregional para medições longitudinais/polares

Dispositivo de medição polar micro-regional Kerr com alta sensibilidade

Sistema de medição microregional para medições longitudinais/polares com alta sensibilidade

Medição do efeito Kehl magnético polar,PMRMedição das propriedades magnéticas dos wafers de película fina

Sistema de medição magnético-óptico longitudinal Kerr para medição de múltiplos pontos de atraso magnético

Fonte de luz laser

Laser semicondutor (405 nm)

Laser semicondutor(408nm)

Laser semicondutor (405 nm)

Diâmetro da mancha

Medição longitudinal

Cerca de 5mm [1/e]2]

1-2mm

2-3mm

1 milímetro

1´2 milímetros

Medição polar

Aproximadamente 2mm [1/e]2]

Detecção de sensibilidade

± 0.005°

±0.001°

±0.001°

± 0.005°

± 0.005°

Alcance de detecção

± 1°

Mais força de campo magnético

Ímã polar

>±10kOe

>±10kOe

Campo magnético polar

>±1.5T

>±25kOe

>±0,2T

Campo magnético interior

>±10kOe

Campo magnético interior

>±1T

Tamanho da amostra mensurável

5´5´1TMM~10´10´1TMM

5´5~10´10 milímetros

t:0.5~1 milímetro

wafer de 12 polegadas

wafer de 12 polegadas