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Shanghai Liqing Instrumentos Científicos Co., Ltd.
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Analisador de condu??o térmica (LFA 467 HyperFlash)

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Sem a necessidade de substituir o detector ou o corpo do forno, o LFA467 HyperFlash oferece uma ampla gama de temperaturas de -100°C a 500°C no mesmo instrumento. Combinado com uma ampla variedade de acessórios opcionais, abre um novo horizonte para a medi??o de materiais térmicos.
Detalhes do produto

I. Introdução do produto:

Ampla gama de temperaturas, a partir de -100 Para 500

Sem a necessidade de substituir o detector ou o corpo do forno, o LFA467 HyperFlash oferece uma ampla gama de temperaturas de -100°C a 500°C no mesmo instrumento. Combinado com uma ampla variedade de acessórios opcionais, abre um novo horizonte para a medição de materiais térmicos.

Mostrador incluído 16 Uma amostra, a capacidade da amostra é original. 4 vezes

LFA 467 HyperFlashUma grande vantagem é a possibilidade de medição contínua em toda a gama de temperatura 16 Uma amostra reduziu significativamente o tempo de medição. O sistema de reabastecimento de nitrogênio líquido permite a reabastecimento automático de nitrogênio líquido para o detector e o forno, garantindo medições ininterruptas do instrumento durante todo o tempo.

ZoomOpticsResultados de medição mais precisos e menos erros de medição

TecnologiaZoomOpticsO alcance de detecção do detector é otimizado, eliminando assim o efeito do apendice de abertura. Aumenta significativamente a precisão dos resultados de medição.

Frequência de amostragem elevada (2MHzEspecialmente adequado para amostras de filme

Amostras de película fina e materiais altamente condutores de calor exigem taxas rápidas de coleta de dados para registrar com precisão o aquecimento da superfície da amostra.LFA 467 HyperFlashPode ser fornecido2MHzA taxa de recolha de dados éLFAdo sistema*.

Parâmetros técnicos:

Faixa de temperatura: -100 ° C ... 500 ° C, forno único
Medição sem contato, o detector IR detecta o processo de aquecimento da superfície na amostra
Velocidade de coleta de dados: até 2MHz (incluindo detecção de sinal de semi-aquecimento e tecnologia de mapeamento de pulso) - para amostras de alta condutividade térmica e de película fina, o tempo de amostragem (cerca de 10 vezes o tempo de semi-aquecimento) pode ser inferior a 1ms e a espessura da amostra pode ser inferior a 0,01 mm (dependendo do fator de condutividade térmica específico)
Medição do coeficiente de difusão térmica: 0,01 mm2/s ... 2000 mm2/s
Medição do coeficiente de condutividade térmica: < 0,1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
Tamanho da amostra:
- Diâmetro 6 mm ... 25,4 mm (incluindo amostras quadradas)
Espessura 0,01 mm ... 6 mm (os requisitos de espessura da amostra dependem da condutividade térmica das amostras diferentes)
Automático de amostragem de 16 bits
Mais de 20 tipos de suportes
Modos de medição ricos para adaptar-se a vários tipos de amostras. Tal como materiais heterossexuais, análise de padrões de camadas múltiplas, filme, fibra, líquido, pasta, pó, metal fundido, teste sob pressão, etc.
Zoom Optics otimiza o alcance do detector (tecnologia patenteada)
Tecnologia de mapeamento de pulso protegida por patente (US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – aproximação do pulso) para correção da largura do pulso para melhorar a precisão da medição do valor térmico comparativo
Atmosfera: inerte, oxidante, estática/dinâmica, pressão negativa
Siga os seguintes critérios: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, Espera um pouco.

A ZoomOptics obtém resultados de medição mais precisos e reduz os erros de medição
Para projetos tradicionais de sistemas LFA, a área de inspeção coberta pelo detector é geralmente ajustada para o tamanho máximo adequado à amostra (25,4 mm). Para amostras de diâmetro menor, geralmente uma máscara ou uma máscara é colocada sobre a amostra para esconder a área periférica o máximo possível. Mas, como qualquer objeto emite radiação infravermelha, o material de sombra ou máscara não é uma exceção, o sinal do detector resultante será inevitavelmente afetado. A magnitude deste efeito está relacionada com a diferença entre a amostra e o fator de difusão térmica do material da máscara. Como resultado, para algumas amostras, a cauda da curva de aumento da temperatura medida pelo detector pode subir continuamente ou atingir o estado horizontal prematuramente. Em qualquer caso, o deslocamento do tempo de semi-aquecimento analisado resulta em erros no cálculo do coeficiente de difusão térmica.
O acessório ZoomOptics (patente DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03) com o LFA467 permite ajustar o alcance de detecção do detector com maior flexibilidade, garantindo que o detector detecte apenas o aumento da temperatura na superfície da amostra, sem máscara adicional e sem efeito sobre o sinal ambiental. A taxa de diâmetro de detecção padrão de 70% é adequada para a maioria das aplicações, enquanto o software permite que o operador ajuste livremente esse valor para se adaptar a tamanhos e aplicações específicas da amostra.