Oscilloscópero de amostragem digital da Tec

Oscilloscópero de amostragem digital da Tec

Características:

Precisão da medição do sinal do módulo elétrico:

• Ultra baixa vibração do sistema (<100 fs, valor típico)
• > 70GHz

Reduza o ruído do sistema em todas as larguras de banda:

• Grande valor 600 µV (valor típico 450 µV) @ 60 GHz
• Valor grande 380 µV (valor típico 280 µV) @ 30 GHz

Seis canais adicionais em um único host capturam vibrações <100 fs ao mesmo tempo.

O módulo óptico suporta testes de consistência óptica em todas as velocidades padrão da Ethernet de 155 Mb/s a 100 Gb/s (4x25).

Excelente rendimento de captação com taxas de amostragem de até 300 kS/s.

Capacidade de colocar o amostrador perto do dispositivo testado (DUT).

Correção independente da diferença de canal calibrado.

Oscilloscópero de amostragem digital da Tec vantagem：

A vibração de fundo <100 fs permite a verificação de dispositivos com altas taxas de bits (40 e 100 (4´25) Gb/s), com intervalos típicos de unidades de sinal <5% usados pelo instrumento de teste. A largura de banda de 70 GHz permite uma verificação completa de sinais de alta velocidade de bits (harmônicos de ordem 5 com velocidades de dados de 28 Gb/s e harmônicos de ordem 3 com velocidades de dados >45 Gb/s).

Reduza significativamente a quantidade de ruído do instrumento ao capturar sinais de alta taxa de bits e baixa amplitude, evitando outros ruídos que possam causar tremores adicionais e fechamento de olhos.

A captura de alta fidelidade de vários canais diferenciais permite testes de danos entre canais, aumentando o rendimento de teste de vários sistemas de canais seriais de alta velocidade.

Oferece um sistema de teste óptico acessível e versátil para padrões ópticos mono e multimodo, de 155 Mb/s (OC3/STM1) a 40 Gb/s (SONET/SDH e 40GBase Ethernet) e 100 Gb/s Ethernet (100GBase-SR4, -LR4 e ER4), com comprimentos de onda de 850, 1310 e 1550 nm.

O excelente rendimento do sistema reduz o tempo de fabricação ou teste de verificação de equipamentos em quatro vezes.

A cabeça de amostragem remota reduz significativamente a degradação do sinal devido ao cabo e a fixação entre o DUT e o instrumento, simplificando a anti-incorporação do sistema de teste.

Correção de diferença de canal calibrada integrada no módulo de dois canais elimina o atraso e aumenta a fidelidade do sinal para medições multicanais.