Condutor térmico de reflexão térmica a laser de pulso NanoTR/PicoTR

NegociávelAtualização em01/22

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Visão geral

Condutor térmico NanoTR/PicoTR de reflexão térmica a laser de pulso, Hebei Anhe Instruments Co., Ltd., é a empresa de vendas da Alemanha da Nike na China Central, especializada em: analisador de peso térmico, calométrico de varredura diferencial, analisador térmico sincrónico, analisador mecânico térmico, analisador mecânico térmico dinâmico, valor de força, analisador mecânico térmico dinâmico de alta temperatura, monitor de endurecimento de resina dielétrica, série de instrumentos de medição de propriedades térmicas, série de calométrico de aceleração térmica isolante e outros produtos da gama completa da Nike Alemanha

Detalhes do produto

Condutor térmico de reflexão térmica a laser de pulso NanoTR/PicoTRHebei Anhe Instruments Co., Ltd., é a empresa de vendas da Alemanha NECHER na região central da China, especializada em: analisador de peso térmico, calométrico de varredura diferencial, analisador térmico sincrónico, analisador térmico mecânico, analisador térmico mecânico dinâmico, valor de força, analisador térmico mecânico dinâmico de alta temperatura, monitor de endurecimento de resina dielétrica, série de instrumentos de medição de propriedades térmicas, série de calométrico de aceleração térmica e outros produtos da gama completa da Alemanha NECHER.

Utilização do produto:

O método de reflexão térmica é baseado em um sistema de flash laser de ultra-alta velocidade que mede os parâmetros termofísicos de filmes metálicos, cerâmicos e de polímeros na base, como o coeficiente de difusão térmica, a condutividade térmica, o coeficiente de absorção térmica e a resistência térmica da interface. Este sistema mede filmes com espessuras de até 10 nm. Ao mesmo tempo, o sistema oferece diferentes padrões de medição para se adaptar a diferentes situações de substrato (transparente / opaco).

Desempenho do produto:

Como o tempo de flash do laser é de apenas nanossegundos (ns) e até mesmo picossegundos (ps), este sistema pode medir filmes com espessuras de até 10 nm.
O sistema oferece diferentes padrões de medição para se adaptar a diferentes situações de substrato (transparente / opaco).
Modo de medição RF: a fonte laser principal aquece a película do lado oposto, detecta o aumento da temperatura do laser da película de medição do lado oposto, calculando assim os parâmetros de condutividade térmica da película. Este padrão é aplicável a substratos transparentes.
Modo de medição FF: a fonte de laser principal aquece a película frontal, detecta o processo de queda de temperatura do laser da película frontal de medição, calculando assim os parâmetros de condutividade térmica da película. Este padrão é aplicável a substratos opacos.
O método cumpre os critérios:
JIS R 1689: Medição do coeficiente de difusão térmica de películas cerâmicas finas por meio do método de reflexão térmica a laser de pulso;
JIS R 1690: Método de medição da resistência térmica das interfaces de películas cerâmicas e metálicas.

Parâmetros do produto:

Breve história do desenvolvimento:

Em 1990, o Instituto Integrado de Tecnologia Industrial do Japão/Japão* (AIST/NMIJ) inventou o método de reflexão térmica para medir a condutividade térmica de filmes finos.
Em 2008, a AIST fundou a empresa PicoTherm.
Em 2010, a PicoTherm lançou o NanoTR, um sistema de reflexão térmica de nanossegundos.
Em 2012, a PicoTherm lançou o sistema de reflexão térmica PicoTR.
Em 2014, a PicoTherm e a NETZSCH estabeleceram uma parceria estratégica. A NETZSCH é responsável pelas vendas e serviços dos produtos PicoTherm.

Introdução

Antecedentes técnicos

Modo de medição

Modelo do instrumento

parâmetros técnicos

Funções do software

Exemplos de teste

Serviço de amostragem

		O NanoTR	do PicoTR
hospedeiro	Faixa de temperatura 真空度 Modo de medição	RT, RT ... 300°C (opcional) N/A RF / FF	RT, RT ... 500°C (opcional) 10-6 mbar (opcional) RF / FF
Projetos de medição		Coeficiente de difusão térmica, coeficiente de absorção térmica, resistência térmica da interface
Aquecimento a laser	Largura do pulso comprimento de onda Diâmetro da mancha	1 ns de 1550 nm 100 milímetros	0,5 PS de 1550 nm 45 milímetros
Detecção de laser	Largura do pulso comprimento de onda Diâmetro da mancha	Contínuo 785 nm 50 μm	0,5 PS de 775 nm 25 milímetros
Espessura da camada fina da amostra (Modo RF)	resina cerâmica metal	30 nm. .. 2 μm 300 nm. .. 5 μm 1 μm. .. 20 μm	10 nm. .. 100 nm 10 nm. .. 300 nm 100 nm. .. 900 nm
Espessura da camada fina da amostra (Modelo FF)		> 1 μm	> 100 nm
Substrato	material Dimensões Espessura	opaco/transparente Quadrado de 10...20 mm ≤ 1 milímetro
Tempo de difusão térmica		10ns. .. 10µs	10 pontos. .. 10ns
Coeficiente de difusão térmica	Ámbito Precisão Repetibilidade	0.01 . .. 1000 mm²/s CRM 5808A, espessura 400 nm, modo RF, 40 min Verificação do tempo de teste: ± 6,2%

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