NanoFocus Profilômetro 3D

Série NanoFocus μsurfContrômetro 3DA tecnologia de confocalização porosa, combinada com a captura de imagem do CCD, substitui o buraco do detector por um disco rotativo com muitos buracos e, em seguida, move o objetivo verticalmente para medir com precisão os dados tridimensionais do objeto em um curto período de tempo (cerca de alguns segundos) de forma semelhante à tomografia. Seu modo de medição é sem contato, não danifica a superfície da amostra, não precisa medir no ambiente de vácuo, também pode usar a função de medição do microscópio para observar a amostra, em ambientes de trabalho duros, também pode ser usado normalmente. Devido ao uso do método de confocalização, quando se mede a altura do gradiente maior, é possível medir a altura do objeto com mais precisão do que outros métodos e criar imagens estéreo 3D, com vantagens bastante óbvias.

Série μsurfContrômetro 3DAplicações
A série μsurf é usada para medir o perfil físico da superfície e realizar análises tridimensionais de perfil em escala micro-nanométrica, como perfil da superfície 3D, perfil da profundidade 2D, contorno (profundidade, largura, curvatura, ângulo), rugosidade da superfície, etc.
Peças de precisão: detecção do desgaste da superfície, rugosidade da superfície, peças exigidas pela microestrutura da superfície, como o cilindro do motor, a abertura da faca, etc.;
Ciências da vida: medição da espessura do revestimento em stents, etc.
Sistemas mecânicos microeletrônicos: detecção de microdispositivos, detecção de estruturas de tecidos em engenharia farmacêutica, como chips genéticos, etc.
Semicondutores: detecção de microsistemas eletrônicos, embalagem e design de estruturas de produtos auxiliares
Energia solar: caracterização da forma 3D da linha de reticulação de células solares, medição de alta proporção de largura, caracterização da forma 3D pós-velho (tamanho da pirâmide monocristalina, quantidade, ângulo, forma de poço de corrosão policristalina, densidade), análise de rugosidade, etc.
Papel: medição 3D da superfície de papel e moeda
LED: para medição de substratos de zafir, amostragem de WAFER em 3D após o ICP PSS

Série μsurfparâmetros técnicos
Fonte de luz LED: λ = 505 nm, MTBF: 50.000 h
Tempo de medição: 2 a 10 segundos
Princípio de medição: sem contato, co-foco
Direção X / Y: faixa de movimento da plataforma: 100mmX100mm / 200mmX200mm / 300mmX300mm (tamanho opcional), acionamento do motor, resolução da direção X / Y: 0,3 μm
Faixa de medição na direção Z: 350 μm, resolução na direção Z: < 1 nm
Objetivos: 10X, 20X, 50X, 100X (opcional)
Câmera desmontada (10X), zoom grande 8 x 6 mm2 (opcional)
Computador: sistema de controle de computador de alto desempenho, software poderoso e abrangente com função de junção
Equipado com mesa de trabalho profissional: tamanho 1550x800x750 mm (LxH)
Fonte de alimentação: 100-240V, 50-60Hz, entrada: 550 VA
Material: aço, borracha, mármore
Peso: aproximadamente 150KG + 80KG
清洁室等级: Classe de capacidade 6 (de acordo com DIN EN ISO 14644)